引言：復雜光系統帶來的測量挑戰

在現代光通信與傳感系統中，光學器件的集成度日益提高，導致系統插損顯著增大。同時，應用波長也從傳統的1310nm和1550nm，擴展至850nm、980nm、1064nm等特殊波段。這些變化對光鏈路參數的精確測量提出了更高要求。尤其是在不拆卸器件的情況下，如何利用常規通信波段的OFDR設備，對高插損、非工作波段的器件進行精確長度測量，已成為行業內的一個關鍵技術難題。

OFDR技術原理

光頻域反射技術原理是基于反射式的相干檢測技術，其基本測試原理示意圖如下所示：

信號光自OFDR設備的輸出端口發出，經待測光鏈路傳輸后，會實時產生后向反射光信號。該信號主要源于光纖中固有的瑞利散射效應——一種普遍存在且強度基本保持穩定的物理現象。此類后向散射光被設備接收并解調后，最終形成測試曲線。其基本原理與OTDR類似，均屬反射式光強度檢測技術；二者的主要區別在于信號調制與距離解調方式：OTDR采用脈沖光，通過時延信息解析距離，探測距離在數十公里級，空間分辨率在米級；而OFDR使用掃頻光源，通過快速傅里葉變換將頻率域信息映射為距離域結果，探測距離在百米級，空間分辨率在十微米級，非常適合器件級和短鏈路的精密診斷。

實現精確長度測量的三個關鍵前提

①待測點必須位于設備的測量范圍（通常為百米量級）之內

②待測點需有高于噪聲水平的反射信號（如連接器端面反射峰）

③信號在到達待測點之前的累積損耗不能過高，否則返回信號將過于微弱

實測案例：850nm偏振控制器的長度測量

在光器件研發與生產過程中，客戶常常會遇到一些“棘手"的測量難題。近期，我們協助客戶，成功解決了其850nm波段三環偏振控制器在不通電、不拆解情況下的精確長度測量問題。下面將詳細解析這一典型案例，并展示我司OCI高分辨率光學鏈路診斷儀在應對高插損、波段失配等挑戰時的強大能力。

首先使用實驗室的1550nm波段OCI設備進行直接測量。結果如下圖1所示：OFDR曲線噪聲臺階衰落明顯，光鏈路中存在大插入損耗，末端APC連接頭反射信號太弱導致設備無法檢測到（反射峰）。圖2所示，使用功率計對偏振控制器進行損耗測量：功率計顯示插入損耗大于50dB。

圖1                         圖2

隨后，我們切換至1310nm波段的OCI設備（見圖3），及使用功率計進行損耗測試（見圖4），發現雖然損耗依然存在，但相比1550nm波段已有改善。這為我們提供了一個關鍵的突破口：1310nm可能是更合適的測量窗口。

圖3                         圖4

因此，我們在偏振控制器末端接入一段FC/APC轉FC/UPC的跳線。UPC端面的高反射率（理論值-14.8dB）能產生一個強烈的反射信號作為“標記點"。

使用1310nm波段OCI再次測量（見圖5），結果顯示：一個清晰的反射峰出現在曲線中。OCI軟件自動標定該事件點距離輸入端為3.0927米。減去跳線本身的長度（1.07米），我們最終得到了偏振控制器的精確長度：2.0227米，成功解決客戶難題。然而這種間接測量長度方法經常用于波段不匹配、鏈路損耗大等情況。

圖5

運用同樣的測試方式，使用1550nm波段的OCI設備進行測量，從圖6可以看到1550nm波段光在850nm的樣品中衰減過大，導致即使增加了待測點位置的反射強度，經過待測鏈路后仍然不足以被設備檢測到，進而無法標定長度。

圖6

案例總結

這個案例生動地表明，復雜的測量挑戰往往需要“設備性能"與“應用方案"的結合。

無論是波段不匹配還是光鏈路插入損耗過大，其核心原因仍然是光損耗。在測量此類樣品時，我們可以增加待測點位置的反射強度（如加PC頭、反射鏡或鍍增反膜等），也可減小樣品損耗?？偠灾?，需要提高從待測點位置回來并進入設備內部的光信號強度，使之高于噪聲水平，此時才能通過反射峰標定待測位置，并計算鏈路精確長度。

OCI高分辨光學鏈路診斷儀不僅是工具，更是您解決復雜光測量問題的合作伙伴。